OmniScan X4多技术系列仪器是一种功能强大的便携式解决方案，其高速度和多功能性可提升您的工作效率，同时增强您对评估工作的信心。利用其高级相控阵功能、高效的全聚焦方式（TFM） 和创新型相位相干成像（PCI）技术，可以探测和解读具有挑战性的缺陷，并通过更早地识别损伤来确保资产的完整性。
OmniScan X4系列仪器的每个型号都能驱动装有一定数量晶片的探头，从而可针对不同的材料和厚度提供不同的聚焦能力。以下是4种机型所擅长应用类型的概述。要了解更多详情，请联系我们。
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擅长以下应用：
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腐蚀监控
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检测管道完整性
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手动PA/TFM
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衍射时差（TOFD）
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小管道
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出色的中档机型，适用于：
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检测薄焊缝（小于25毫米）
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风电叶片制造
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航空航天业的缺陷探测
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可进行高效焊缝检测，包括粗晶粒材料：
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厚焊缝，可检测厚达~75毫米的焊缝
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奥氏体/耐腐蚀合金（CRA）
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偶尔进行TFM检测
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石油和天然气行业的缺陷探测
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对较厚的粗晶材料进行更高效的焊缝检测：
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非常厚的焊缝，~100毫米（使用64晶片孔径提高定量精度）
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奥氏体/耐腐蚀合金（CRA）
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密集进行TFM检测（HTHA）
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先进的石油、天然气和电力生产行业的缺陷检测
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FMC采集和应用开发
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为了满足您的应用需求，我们提供完整的解决方案，包括探头和楔块、扫查器和软件，以充分发挥您的OmniScan X4探伤仪的检测性能。欢迎了解我们为这些应用提供的一系列设备解决方案
提供全聚焦方式（TFM）的OmniScan X4相控阵探伤仪
探测和定义更小的高温氢致（HTHA）裂纹
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早期可靠地探测HTHA颇具挑战性，因此通常需要同时使用多种检测方法，以尽可能提高检出率。衍射时差（TOFD）、聚焦相控阵（PA）和全聚焦方式（TFM），特别是在使用双晶线阵（DLA）探头的情况下，已被证明是适合这种应用的特别有效的检测技术。
OmniScan X4 64探伤仪完全支持这些方法和创新型相位相干成像（PCI）技术，后者可增强探测微小缺陷和裂纹尖端的能力。OmniScan X4仪器还提供各种机载软件工具，以简化您的设置和分析工作流程。
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集成了DLA探头配置和扫查器配置
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高分辨率全聚焦方式（TFM）图像（高达1024 × 1024点）
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软件工具优化了从设置到分析的整个TFM检测过程（带AIM模型的扫查计划、自动TCG、稀疏发射、软增益和调色板滑块、实时TFM包络和图像滤波器、闸门和报警）
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64晶片TFM孔径和128晶片扩展TFM孔径（OmniScan X4 64:128PR型号）
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相位相干成像可增强探测小缺陷和裂纹尖端的能力（所有OmniScan X4仪器）
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同时采集多达8个TOFD和相控阵组，实现高效筛查
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同时采集和显示多达4个TFM和PCI组
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可使用TFM和PCI进行平面波成像（PWI）（使用OmniScan X4仪器和线性阵列探头）
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OmniScan X4探伤仪
腐蚀检测，简便易行
利用相控阵技术进行腐蚀检测具有很多优势，其中包括较大的覆盖范围和出色的分辨率。但是，熟练掌握相控阵技术具有一定的挑战性。OmniScan X4探伤仪通过精心设计的软件和简单流畅的菜单提供高级功能，从而可使您简单轻松地获得准确的数据。
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其全聚焦方式（TFM）和相位相干成像（PCI）等高级工具有助于检测腐蚀和其他具有挑战性的损坏机制，如高温氢致缺陷（HTHA）和氢致裂纹（HIC）
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最多使用64晶片孔径可生成PCI和TFM图像，只需稍微设置即可获得出色的分辨率
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任何水平的操作人员在使用仪器时都会感到更加得心应手
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由于有了用于腐蚀的应用预设，设置包括HydroFORM扫查器或者FlexoFORM扫查器的复杂扫查计划，，就变得更加容易
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大文件容量可以实现更快的数据通量，并可进行不间断的扫查
使用一个25GB的大容量文件，可以扫查一个最大13平方米的区域，还可以对大型管道进行完整的周向扫查
用于条件艰苦的环境
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10.6英寸WXGA显示屏上的图像清晰可见
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触摸显示屏反应灵敏，即使在带着手套、粘有耦合剂，或者在雨中操作时，其灵敏度也不会降低
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符合IP65评级标准，防尘防水
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可在-10°C到45°C的温度范围内正常操作，不会影响其符合IP65评级的认证
焊缝解决方案
OmniScan X4相控阵探伤仪
充分发挥检测性能
OmniScan X4探伤仪是一个综合型多技术工具箱，配备有设置、成像和分析工具，可使焊缝检测变得更轻松
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您可以使用直观的机载扫查计划进行完整的设置，而无需使用PC机
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改进的快速校准
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多组全聚焦方式（TFM）成像和相位相干成像（PCI）可提高图像分辨率，并提供几何形状正确的缺陷视图
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并用TFM/PCI技术，使用两个探头从两侧对焊缝体积进行成像，在显示屏上同时显示TFM和PCI数据。
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标准PR配置可使用双晶阵列探头的较大孔径（64:128PR型号的扩展TFM孔径最多可达128晶片）
用于焊缝检测的数据管理和分析工具
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用户可以使用OmniPC软件提供并排视图功能，将分别扫查焊缝两侧时获得的视图并排放在同一个屏幕上，进行比较，从而可以更轻松地表征缺陷指示。
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OmniPC软件的主工具栏提供分析中常用的控制按钮，用户按下按钮，即可访问所需的功能。
更多细节，欢迎来询。
